元器件参数测试仪器
阻抗分析仪
TH2851-130 精密阻抗分析仪

 测试频率:10Hz-130MHz

 基本阻抗精度:0.08%,典型值≤±0.045%

 高精度:采用自动平衡电桥技术,四端对测试配置 

 高稳定性和一致性

 高速度:最快达2.5ms的测试速度

 高分辨:10.1英寸电容式触摸屏,分辨率1280*800

 点测、列表扫描、图形扫描、等效电路、晶体振荡器分析五种测试方式

 1601点多参数列表扫描功能

 四参数测量

 自动电平控制(ALC)功能

 4通道图形扫描功能,每通道可显示4条曲线,通道和曲线有

  14分屏显示方式

 分析功能:等效电路分析、晶体振荡器分析、压电分析、

   曲线轨迹对比、介电常数分析(选件)、磁导率分析(选件)

 强大的分选:LCR模式10档分选

 图形扫描模式每条曲线单独分选,频率分段扫描并分选

 高兼容性:支持SCPI指令集,兼容KEYSIGHT E4990A、

  E4980A、E4980AL、HP4284A


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TH2851-080 精密阻抗分析仪

 测试频率:10Hz-80MHz

 基本阻抗精度:0.08%,典型值≤±0.045%

 高精度:采用自动平衡电桥技术,四端对测试配置

 高稳定性和一致性

 高速度:最快达2.5ms的测试速度

 高分辨:10.1英寸电容式触摸屏,分辨率1280*800

 点测、列表扫描、图形扫描、等效电路、晶体振荡器分析五种测试方式

 1601点多参数列表扫描功能

 四参数测量

 自动电平控制(ALC)功能

 4通道图形扫描功能,每通道可显示4条曲线,通道和曲线有

  14分屏显示方式

 分析功能:等效电路分析、晶体振荡器分析、压电分析、

   曲线轨迹对比、介电常数分析(选件)、磁导率分析(选件)

 强大的分选:LCR模式10档分选

 图形扫描模式每条曲线单独分选,频率分段扫描并分选

 高兼容性:支持SCPI指令集,兼容KEYSIGHT E4990A、

  E4980A、E4980AL、HP4284A


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TH2851-050 精密阻抗分析仪

 测试频率:10Hz-50MHz

 基本阻抗精度:0.08%,典型值≤±0.045%

 高精度:采用自动平衡电桥技术,四端对测试配置

 高稳定性和一致性

 高速度:最快达2.5ms的测试速度

 高分辨:10.1英寸电容式触摸屏,分辨率1280*800

 点测、列表扫描、图形扫描、等效电路、晶体振荡器分析五种测试方式

 1601点多参数列表扫描功能

 四参数测量

 自动电平控制(ALC)功能

 4通道图形扫描功能,每通道可显示4条曲线,通道和曲线有

  14分屏显示方式

 分析功能:等效电路分析、晶体振荡器分析、压电分析、

   曲线轨迹对比、介电常数分析(选件)、磁导率分析(选件)

 强大的分选:LCR模式10档分选

 图形扫描模式每条曲线单独分选,频率分段扫描并分选

 高兼容性:支持SCPI指令集,兼容KEYSIGHT E4990A、

  E4980A、E4980AL、HP4284A


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LCR数字电桥
TH2840A 精密LCR数字电桥

 高分辨:10.1英寸,分辨率1280*800,电容式触摸屏

  高稳定性和一致性:14个量程配置

  高功率:信号电平:20V/100mA

      内置直流偏置:±40V/100mA

      内置偏流源:2A

 DCR电平:20V/100mA

 高速度:双CPU架构,最快达1800次/s的测试速度

 点测、列表扫描、图形扫描三种测试方式

 四参数测量

 201点多参数列表扫描功能

 图形扫描功能,4轨迹任意选择,支持1/2/4分屏

 分选功能:LCR模式10档分选

 高兼容性:支持SCPI/MODBUS指令集,

兼容KEYSIGHT E4980A、E4980AL、HP4284A




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TH2840B 精密LCR数字电桥

 高分辨:10.1英寸,分辨率1280*800,电容式触摸屏

  高稳定性和一致性:14个量程配置

  高功率:信号电平:20V/100mA

      内置直流偏置:±40V/100mA

      内置偏流源:2A

 DCR电平:20V/100mA

 高速度:双CPU架构,最快达1800次/s的测试速度

 点测、列表扫描、图形扫描三种测试方式

 四参数测量

 201点多参数列表扫描功能

 图形扫描功能,4轨迹任意选择,支持1/2/4分屏

 分选功能:LCR模式10档分选

 高兼容性:支持SCPI/MODBUS指令集,

兼容KEYSIGHT E4980A、E4980AL、HP4284A




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TH2838 精密LCR数字电桥

 测试频率:20Hz-2MHz,分辨率:最高0.1mHz

 基本精度:0.05%

 测试速度:最快5.6ms/次

 测试原理:自动平衡电桥

 高功率:信号源 20V/100mA

  DC偏置:±40V/100mA 

   外部DC BIAS偏置最大可达120A

   独立电压源:±10V可编程输出

 高稳定性和一致性:高达15个测试量程配置

 高分辨:7英寸,800×480分辨率

 多功能参数列表扫描

 多参数图形化扫描功能

 变容二极管自动极性功能

 10档分选功能,分选结果声光报警

 存储空间:内置40组设定文件,USB扩展500组设定文件、

   数据记录文件、图片文件

 Ls-RDC同时测试

 高兼容性:支持SCPI指令集,兼容KEYSIGHT E4980A、

   E4980AL、HP4284A等应用

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电容器测试仪器
TH2686C 电解电容漏电流测试仪

 测试电压:0-200V,0-500V

 电压精度:2%设定值+2个字

 测量范围:0-30mA,10档

 电流准确度:2%读数+0.5格

 生产线用通用型仪器

 电压、充电时间数字显示

 直观的电流读出方式

 充电时间倒计数

 操作简便,工作可靠





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TH2686N 电解电容漏电流测试仪

 测试电压:0-200V,0-500V

 电压精度:1%设定值+1个字

 测量范围:10nA-19.99mA,分辨率:1nA

 电流准确度:2%读数+2个字

 智能型,微处理器控制

 电压,电流双数字显示

 按键清零

 测试电流值锁定功能

 超强的抗干扰能力




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TH2689 电容器漏电流/绝缘电阻测试仪

 测试电压:1V-800V连续可调

 电压精度:±(0.5%设定值+0.2V)

 电容漏电流范围(LC):0.001μA-20.00mA

 绝缘电阻范围(IR):0.01MΩ-99.99GΩ

 电流精度:±(0.3%+0.05μA)

 测试速度:最快40ms

 铝箔耐压及上升时间测试功能

 精密低定电流充电功能(0.5mA±0.05mA)

 大电流(500mA)提高低压大电容充电速度

 内有数位计时器

 标配RS232接口,Handler接口,可选的GPIB接口

 大型LCD(240×64点阵)显示

 人性化操作界面

 简易使用的电脑操作界面(选购)

 可通过RS232C自动升级仪器工作程序





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电感器测试仪器
TH1778A 直流偏置电流源

频率响应:0Hz-2MHz

提供单台0-20A恒流输出

最多支持6台联机,最大120A恒流输出

单一电流、步进扫描两种电流输出方式

主/从机控制模式,灵活的可裁剪性及可扩展性

精细的电流步进

图形化操作,中英文界面

两种SCPI指令模式,适应性强

5种控制模式

直接受控于TH2829/TH2827/TH2838/TH2839/TH2830系列

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TH1778AS 直流偏置电流源

频率响应:0Hz-2MHz

提供单台0-20A恒流输出,必须受控于TH1778A

最多支持6台联机,最大120A恒流输出

精细的电流步进


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TH1778B 直流偏置电流源

 频率响应:0Hz-2MHz

 提供单台0-20A恒流输出

 不支持联机

 单一电流、步进扫描两种电流输出方式

 主/从机控制模式,灵活的可裁剪性及可扩展性

 精细的电流步进

 图形化操作,中英文界面

 两种SCPI指令模式,适应性强

 5种控制模式

 直接受控于TH2829/TH2827/TH2838/TH2839/TH2830系列


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半导体器件CV特性测试
TH511 半导体C-V特性分析仪

 一体化设计:LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件

 单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描(选件)三种测试方式

 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示

 标配2通道,可扩展至6通道,可测单管、多芯或模组器件(TH513仅1通道)

 CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

 电容快速充电技术,实现快速测试

 接触检查Cont

 通断测试OP_SH

 自动延时设置

 栅极电压VGS:0 - ±40V

 漏极电压VDS:0 - ±200V

 10档分选


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TH512 半导体C-V特性分析仪

 一体化设计:LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件

 单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描(选件)三种测试方式

 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示

 标配2通道,可扩展至6通道,可测单管、多芯或模组器件(TH513仅1通道)

 CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

 电容快速充电技术,实现快速测试

 接触检查Cont

 通断测试OP_SH

 自动延时设置

 栅极电压VGS:0 - ±40V

 漏极电压VDS:0 - ±1500V

 10档分选


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TH513 半导体C-V特性分析仪

 一体化设计:LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件

 单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描(选件)三种测试方式

 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示

 标配2通道,可扩展至6通道,可测单管、多芯或模组器件(TH513仅1通道)

 CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

 电容快速充电技术,实现快速测试

 接触检查Cont

 通断测试OP_SH

 自动延时设置

 栅极电压VGS:0 - ±40V

 漏极电压VDS:0 - ±3000V

 10档分选


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