■ 栅极电压V_GS：0 - ±40V

■ 漏极电压V_DS：0 - ±3000V

■ 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示

■ 一体化设计：LCR+V_GS低压源+V_DS高压源+通道切换+上位机软件

■ 单管器件（点测）、模组器件（列表扫描）、曲线扫描(选件)三种测试方式

■ 标配2通道，可扩展至6通道，可测单管、多芯或模组器件（TH513仅1通道）

■ CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

■ 电容快速充电技术，实现快速测试

■ 接触检查Cont

■ 通断测试OP_SH

■ 自动延时设置

■ Crss Plus功能：解决高频下Crss负值问题

■ 高压击穿保护：DS瞬间短路，保护仪器

■ Interlock安全锁功能：增加高压防护墙（仅TH513）

■ Cs-V功能：二极管结电容CV特性测试分析

■ 等效模式转换功能，可选Cs或Cp模式

■ 10档分选

■ 栅极电压V_GS：0 - ±40V

■ 漏极电压V_DS：0 - ±3000V

■ 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示

■ 一体化设计：LCR+V_GS低压源+V_DS高压源+通道切换+上位机软件

■ 单管器件（点测）、模组器件（列表扫描）、曲线扫描(选件)三种测试方式

■ 标配2通道，可扩展至6通道，可测单管、多芯或模组器件（TH513仅1通道）

■ CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

■ 电容快速充电技术，实现快速测试

■ 接触检查Cont

■ 通断测试OP_SH

■ 自动延时设置

■ Crss Plus功能：解决高频下Crss负值问题

■ 高压击穿保护：DS瞬间短路，保护仪器

■ Interlock安全锁功能：增加高压防护墙（仅TH513）

■ Cs-V功能：二极管结电容CV特性测试分析

■ 等效模式转换功能，可选Cs或Cp模式

■ 10档分选

■ 栅极电压V_GS：0 - ±40V

■ 漏极电压V_DS：0 - ±3000V

■ 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示

■ 一体化设计：LCR+V_GS低压源+V_DS高压源+通道切换+上位机软件

■ 单管器件（点测）、模组器件（列表扫描）、曲线扫描(选件)三种测试方式

■ 标配2通道，可扩展至6通道，可测单管、多芯或模组器件（TH513仅1通道）

■ CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

■ 电容快速充电技术，实现快速测试

■ 接触检查Cont

■ 通断测试OP_SH

■ 自动延时设置

■ Crss Plus功能：解决高频下Crss负值问题

■ 高压击穿保护：DS瞬间短路，保护仪器

■ Interlock安全锁功能：增加高压防护墙（仅TH513）

■ Cs-V功能：二极管结电容CV特性测试分析

■ 等效模式转换功能，可选Cs或Cp模式

■ 10档分选

■ 提供固定静态偏置点进行窄脉冲动态IV测量，满足准等温测试条件

■ 实现器件寄生效应的量化测量与数据运算

■ 脉宽最小低至200ns

■ 具有内部和外部同步能力

■ 脉冲时序设置和时域波形记录

■ 仪器设备可与socket&半自动探针台互联，进行封装以及晶圆级芯片测试

■ 提供固定静态偏置点进行窄脉冲动态IV测量，满足准等温测试条件

■ 实现器件寄生效应的量化测量与数据运算

■ 脉宽最小低至200ns

■ 具有内部和外部同步能力

■ 脉冲时序设置和时域波形记录

■ 仪器设备可与socket&半自动探针台互联，进行封装以及晶圆级芯片测试

■ 提供固定静态偏置点进行窄脉冲动态IV测量，满足准等温测试条件

■ 实现器件寄生效应的量化测量与数据运算

■ 脉宽最小低至200ns

■ 具有内部和外部同步能力

■ 脉冲时序设置和时域波形记录

■ 仪器设备可与socket&半自动探针台互联，进行封装以及晶圆级芯片测试

■ 提供固定静态偏置点进行窄脉冲动态IV测量，满足准等温测试条件

■ 实现器件寄生效应的量化测量与数据运算

■ 脉宽最小低至200ns

■ 具有内部和外部同步能力

■ 脉冲时序设置和时域波形记录

■ 仪器设备可与socket&半自动探针台互联，进行封装以及晶圆级芯片测试

■ 单通道和双通道 N/P或组合器件测试   (MOSFET、IGBT以及二极管） 

■ 可测试高达2500V雪崩电压、200A峰值电流等级设备 

■ 支持单脉冲雪崩测试（EAS)、重复雪崩能量测试(EAR）、 重复脉冲至失效测试(RPF) 

■ 高速校准DAC可提升测试精度 

■ 用户可调节的电源电压(10V至150V)稳定可靠 

■ 漏极、源极接触检查电路可检测20Ω以下的接触电阻，提 供报错提示(LED) 

■ 可设栅极驱动电压(最大电压差:30V，最大电压值:28V)适 应不同被测件所需 

■ 可在雪崩前、雪崩后进行可调值的泄漏测试、以确定被测 件当前状态 

■ 高速固态开关、带故障检测功能 

■ 高精度的电流和电压波形捕捉以及雪崩持续时间捕捉 

■  7寸24位色TF LCD电容式触摸屏，中英文可选操作界面， 用于单机操作、输入测试规格以及提供测试数据显示。 

■ 提供指令用于用户将屏幕信息存储于U盘 

■ 仪器有开机自检和在线自检功能、为用户排查仪器内部故 障问题 

■ 配备简单自动校准程序，用户可现场进行校准 

■ 配备多种接口:用于远程测试控制的GPIB接口、前后面板各配备一个的高速串行接口、支持高速传输数据的LAN 口。 LAN口不仅可用于远程测试控制,在用户需要观测即时 测试波形时，可使用 LAN口搭配上位机程序查看每一一次 的波形数据

■ 可与TH530-01 可编程电感负载箱(0.01 至159.9mH)或外部电感器配合使用 

■ 可外接示波器触发器输出，同步可视化雪崩测试过程，用 于准确测量雪崩时间

■ 单通道和双通道 N/P或组合器件测试   (MOSFET、IGBT以及二极管） 

■ 可测试高达2500V雪崩电压、200A峰值电流等级设备 

■ 支持单脉冲雪崩测试（EAS)、重复雪崩能量测试(EAR）、 重复脉冲至失效测试(RPF) 

■ 高速校准DAC可提升测试精度 

■ 用户可调节的电源电压(10V至150V)稳定可靠 

■ 漏极、源极接触检查电路可检测20Ω以下的接触电阻，提 供报错提示(LED) 

■ 可设栅极驱动电压(最大电压差:30V，最大电压值:28V)适 应不同被测件所需 

■ 可在雪崩前、雪崩后进行可调值的泄漏测试、以确定被测 件当前状态 

■ 高速固态开关、带故障检测功能 

■ 高精度的电流和电压波形捕捉以及雪崩持续时间捕捉 

■  7寸24位色TF LCD电容式触摸屏，中英文可选操作界面， 用于单机操作、输入测试规格以及提供测试数据显示。 

■ 提供指令用于用户将屏幕信息存储于U盘 

■ 仪器有开机自检和在线自检功能、为用户排查仪器内部故 障问题 

■ 配备简单自动校准程序，用户可现场进行校准 

■ 配备多种接口:用于远程测试控制的GPIB接口、前后面板各配备一个的高速串行接口、支持高速传输数据的LAN 口。 LAN口不仅可用于远程测试控制,在用户需要观测即时 测试波形时，可使用 LAN口搭配上位机程序查看每一一次 的波形数据

■ 可与TH530-01 可编程电感负载箱(0.01 至159.9mH)或外部电感器配合使用 

■ 可外接示波器触发器输出，同步可视化雪崩测试过程，用 于准确测量雪崩时间

■ 单通道和双通道 N/P或组合器件测试   (MOSFET、IGBT以及二极管） 

■ 可测试高达2500V雪崩电压、200A峰值电流等级设备 

■ 支持单脉冲雪崩测试（EAS)、重复雪崩能量测试(EAR）、 重复脉冲至失效测试(RPF) 

■ 高速校准DAC可提升测试精度 

■ 用户可调节的电源电压(10V至150V)稳定可靠 

■ 漏极、源极接触检查电路可检测20Ω以下的接触电阻，提 供报错提示(LED) 

■ 可设栅极驱动电压(最大电压差:30V，最大电压值:28V)适 应不同被测件所需 

■ 可在雪崩前、雪崩后进行可调值的泄漏测试、以确定被测 件当前状态 

■ 高速固态开关、带故障检测功能 

■ 高精度的电流和电压波形捕捉以及雪崩持续时间捕捉 

■  7寸24位色TF LCD电容式触摸屏，中英文可选操作界面， 用于单机操作、输入测试规格以及提供测试数据显示。 

■ 提供指令用于用户将屏幕信息存储于U盘 

■ 仪器有开机自检和在线自检功能、为用户排查仪器内部故 障问题 

■ 配备简单自动校准程序，用户可现场进行校准 

■ 配备多种接口:用于远程测试控制的GPIB接口、前后面板各配备一个的高速串行接口、支持高速传输数据的LAN 口。 LAN口不仅可用于远程测试控制,在用户需要观测即时 测试波形时，可使用 LAN口搭配上位机程序查看每一一次 的波形数据

■ 可与TH530-01 可编程电感负载箱(0.01 至159.9mH)或外部电感器配合使用 

■ 可外接示波器触发器输出，同步可视化雪崩测试过程，用 于准确测量雪崩时间