■ 提供固定静态偏置点进行窄脉冲动态IV测量，满足准等温测试条件

■ 实现器件寄生效应的量化测量与数据运算

■ 脉宽最小低至200ns

■ 具有内部和外部同步能力

■ 脉冲时序设置和时域波形记录

■ 仪器设备可与socket&半自动探针台互联，进行封装以及晶圆级芯片测试

■ 提供固定静态偏置点进行窄脉冲动态IV测量，满足准等温测试条件

■ 实现器件寄生效应的量化测量与数据运算

■ 脉宽最小低至200ns

■ 具有内部和外部同步能力

■ 脉冲时序设置和时域波形记录

■ 仪器设备可与socket&半自动探针台互联，进行封装以及晶圆级芯片测试

■ 提供固定静态偏置点进行窄脉冲动态IV测量，满足准等温测试条件

■ 实现器件寄生效应的量化测量与数据运算

■ 脉宽最小低至200ns

■ 具有内部和外部同步能力

■ 脉冲时序设置和时域波形记录

■ 仪器设备可与socket&半自动探针台互联，进行封装以及晶圆级芯片测试

■ 提供固定静态偏置点进行窄脉冲动态IV测量，满足准等温测试条件

■ 实现器件寄生效应的量化测量与数据运算

■ 脉宽最小低至200ns

■ 具有内部和外部同步能力

■ 脉冲时序设置和时域波形记录

■ 仪器设备可与socket&半自动探针台互联，进行封装以及晶圆级芯片测试