■ 提供固定静态偏置点进行窄脉冲动态IV测量，满足准等温测试条件
■ 实现器件寄生效应的量化测量与数据运算
■ 脉宽最小低至200ns
■ 具有内部和外部同步能力
■ 脉冲时序设置和时域波形记录
■ 仪器设备可与socket&半自动探针台互联，进行封装以及晶圆级芯片测试
本设备主要用于高压功率器件的静态特性及可靠性测试， 通过在一定偏置下对被测器件提供高压脉冲信号（PulseIV），模拟器件快速开关过程，进而测试器件工作过程中的 性能变化情况。
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