TH510系列
TH511 半导体C-V特性分析仪

 通道:2(可扩展至6)

 高偏置:VGS:0 - ±40V,VDS:0–200V

 双CPU架构,最短积分时间0.56ms

 10.1英寸电容式触摸屏,分辨率1280*800,Linux系统

 点测、列表扫描、图形扫描(选件)三种测试方式

 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg)同屏测量及显示

 快速导通测试Cont

 标配2通道测试,可同时测试两个器件或双芯片器件,通道最多可扩展至6通道,通道参数单独保存

 CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

 一体化设计:LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机

 快速充电,缩短电容充电时间,实现快速测试

 自动延时设置

 10档分选


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TH512 半导体C-V特性分析仪

 通道:2(可扩展至6)

 高偏置:VGS:0 - ±40V,VDS:0–1500V

 双CPU架构,最短积分时间0.56ms

 10.1英寸电容式触摸屏,分辨率1280*800,Linux系统

 点测、列表扫描、图形扫描(选件)三种测试方式

 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg)同屏测量及显示

 快速导通测试Cont

 标配2通道测试,可同时测试两个器件或双芯片器件,通道最多可扩展至6通道,通道参数单独保存

 CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

 一体化设计:LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机

 快速充电,缩短电容充电时间,实现快速测试

 自动延时设置

 10档分选


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