TH5102 TH5102型耐压泄漏电流测试仪
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TH5100-IL DB25连接插头

■ Inter lock短路插头

■ 适用于:TH5101 系列



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TH511 半导体C-V特性分析仪

 一体化设计:LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件

 单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描(选件)三种测试方式

 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示

 标配2通道,可扩展至6通道,可测单管、多芯或模组器件(TH513仅1通道)

 CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

 电容快速充电技术,实现快速测试

 接触检查Cont

 通断测试OP_SH

 自动延时设置

 栅极电压VGS:0 - ±40V

 漏极电压VDS:0 - ±200V

 10档分选


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TH512 半导体C-V特性分析仪

 一体化设计:LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件

 单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描(选件)三种测试方式

 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示

 标配2通道,可扩展至6通道,可测单管、多芯或模组器件(TH513仅1通道)

 CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

 电容快速充电技术,实现快速测试

 接触检查Cont

 通断测试OP_SH

 自动延时设置

 栅极电压VGS:0 - ±40V

 漏极电压VDS:0 - ±1500V

 10档分选


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TH510-001 TH510图形分析软件
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TH26063D TH510夹具控制连接电缆
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TH26063F TH510一转二控制盒
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TH26063G TH510测试延长线
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TH26095 TH510校准件
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TH513 半导体C-V特性分析仪

 一体化设计:LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件

 单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描(选件)三种测试方式

 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示

 标配2通道,可扩展至6通道,可测单管、多芯或模组器件(TH513仅1通道)

 CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

 电容快速充电技术,实现快速测试

 接触检查Cont

 通断测试OP_SH

 自动延时设置

 栅极电压VGS:0 - ±40V

 漏极电压VDS:0 - ±3000V

 10档分选


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TH510-1 适配器

TH511/TH512/TH511E

TH510系列功率半导体CV特性分析仪附件,用来连接被测功率器件

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TH510-2 适配器

TH511/TH512/TH511E

TH510系列功率半导体CV特性分析仪附件,用来连接被测功率器件

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TH513-1 适配器

TH511/TH512/TH511E

TH510系列功率半导体CV特性分析仪附件,用来连接被测功率器件

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